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以下4日間で1日2セッション 全8セッションのセミナ日程です。

• 10/20(水) 高速ディスプレイ・インタフェース　MIPI D-PHY/C-PHY
• 10/27(水) PCIe Gen5（アンリツ社と共催）　DDR3/4/5メモリ
• 11/10(水) 車載イーサネット　車載カメラ・インタフェース
• 11/17(水) 高効率スイッチング電源変換と三相モータ　電源品質

今回のセミナ・シリーズでは産業機器、自動車、医療機器、民生機器、コンピュータ/周辺などさまざまな分野に共通した組込みアプリケーションの計測課題である、画像転送用インタフェース、DDRメモリ、電源品質、スイッチング電源評価関連のセミナをご用意しております。

特に最新の高速ディスプレイ／車載カメラ用インタフェース、DDR5、PCIe Gen5及びマルチギガビット車載用Ethernetなど、最新規格の解説および計測課題に応えるテスト・ソリューションをご紹介します。

KeithleyがFocusするDC領域の世界は、一見すると測定評価や測定評価プロセスに大きな変化が起きていることを見落としてしまいがちです。このために研究・開発から量産現場の測定評価は、旧態依然の手法や環境、そしてプロセスが、市場の変化に後れをとっているケースが散在されている現状が見うけられます。Keithley Days 2021 では、エンジニアの皆様に基本的な測定評価手法はもちろん、最新のアプローチなど、皆様のお仕事の効率アップや新しいアプローチにつながる講演を全7セッションご用意しました。

• 酸化ガリウムパワーデバイス開発の現状と今後
• SiCとGaNコンポーネントに対しキーとなる5つのテスト
• PCM/TEGテストにおけるパラレルテストと、最適なTEG設計方法
• 不安や迷いを解消！最適なDC測定器の選び方
• PLCによる計測器制御簡略化のヒント～通信・制御トラブルのリスクを最小限に
• 恒温槽での信頼性試験と並列測定の手法
• ケースレーの高電圧CV測定の総まとめ

Wide Band-gap (WBG) power devices (SiC and GaN) offer significant benefits over silicon based power devices. WBG Semiconductors play a big role in the future of power devices. They are smaller, faster and more efficient than their silicon counterpart. But they also present several validation test challenges.

In this session, we will talk about the wide bandgap test challenges, measurement techniques, and test equipment needs including the requirements for a scope, probing techniques, and automated test software that can help meet the tough challenges presented by wide bandgap semiconductor devices.

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このセミナーでは、正しい校正を行なうために必要な、基本的な校正の考え方についてまとめました。計測機器を適切に維持管理するためには、正しい校正の理解が必要となります。

■ 対象者

• 初めて計測機器の校正管理に携わる方
• 計測機器の正しい校正方法を学びたい方

■ 所要時間　35分

Do you know that Tektronix releases quarterly firmware updates for our beloved 4, 5 and 6 Series Mixed Signal Oscilloscope? We continuously gather your feedbacks and comments as we know that your measurement needs are ever-evolving. The firmware update will make sure that your voice and needs are taken care of.

Join this session and learn what are the latest addition that we have for your oscilloscope:
- New Features
- New Serial Bus Support
- New Applications
- Bug Fixes

Register today!

【2021年7月に開催したテクトロニクス・イノベーション・フォーラム2021の各セッションがオンデマンド・セミナに】

アプリケーション・ベースのセミナ、業界リーダを招いたパネル・ディスカッション、基調講演、計測器活用講座など、最新技術動向からソリューション、計測事例、計測手法についてご紹介した二日間にわたるセミナが今だけオンデマンドでご視聴いただけます。ぜひご登録ください。

Debugging embedded systems often involves looking for clues that are hard to discover just by looking at one domain at a time. The ability to look at time and frequency domains simultaneously can offer important insights.

Mixed domain analysis is especially useful for answering questions such as:

What's going on with my power rail voltage when I'm transmitting wireless and RF data?
Where are the emissions coming from when i access memory?
How long does it take for my PLL to stabilize after power-on?

Join our live webinar today as we explore how you can analyze both time and frequency domains on your scope.

Measurements and analysis on three-phase power systems are inherently more complex than on single-phase systems. Although oscilloscopes can capture voltage and current waveforms with high sample rates, further calculations are required to produce key power measurements from the data.

Learn how Inverter Motor and Drive Analysis (IMDA) software from Tektronix makes it easier than ever to perform three-phase analysis and correlation of control timing and power output characteristics on devices such as AC induction motors, permanent magnet synchronous motors (PMSM), and brushless DC (BLDC) motors. Sign up to watch on demand.

Learn more about the snapback phenomenon and Keithley's solution to tackle this challenging topic in semiconductor test and measurement.